研究設備
研究設備
企業様等との共同研究にあたっては学内の共用設備等を利用可能です（※）。
概念検証（PoC）のためのプロトタイプから、社会実装のための試作・量産まで、モノづくりをサポートいたします。
また検査機関や協力会社を通じて信頼性試験・環境試験・認定取得（医療機器認定、PSE、CE）も可能です。
※詳細は電気通信大学との産学連携研究契約に基づきます。また利用は有料となります。
試作設備
試作設備
- マシニング 牧野 V56i MAX 20000RPM ・ XYストローク 900×550
- マシニング 日立精機 VS-40 MAX 20000RPM ・ XYストローク 600×450
- マシニング ロボドリル T21i MAX 20000RPM ・ XYストローク 700×400
- マシニング ロボドリル T21iEL MAX 24000RPM・XYストローク700×400
- CNC旋盤（Y軸付） 森精機 NL2000Y/500 最大加工径: 356mm、標準加工径: 271mm、最大加工長: 510mm
- ブラストマシン 厚地鉄工 B-2（吸引式）
- 3次元座標測定機 東京精密 SVA600A XYZストローク 650×500×450
- 表面粗さ測定機 Mitutoyo SJ-210
- 3D CAD/CAM AUTODESK Inventor HSM
- 3D CAD/CAM セイロジャパン ΦSTATION
- 3D CAD/CAM JBM － MASTER CAM ΦSTATION
実装設備
実装設備
- チップマウンター YAMAHA YSM10
- チップマウンター YAMAHA YS100
- 半田印刷機 YAMAHA YCP10
- 基板外観検査装置 Rexxam sherlock-300
- 恒温槽 アズワン DO-30FA
- インサーキットテスター オカノ電機 510ZII
- 簡易クリーンルーム 約6畳
- 絶縁耐圧抵抗試験機 菊水電子工業 TOS8850
- イオナイザー シシド静電気 BF-2DD
- 恒温高湿槽 KATO SSE78CRA
- Vカットブレーカー CAB
金型設備
金型設備
- ＮＣフライス 大阪機工 MHA-500
- 放電加工機 日立精工 H.MSE 2.20
- フライス２５０ 静岡鉄工所 VHR-A
- 平面研磨盤 日興機械 NFG 515
- 三次元測定器 ミツトヨ Crysta-PlusM 574
- レーザーマーカー オムロン MX-Z2050
- マシニングセンタ オークマ MB-56VA/B
- マシニングセンタ オークマ MB-56VA/B
- マシニングセンタ オークマ MB-66VA/B
- 東洋機械金属 Si-50V
- ファナック α-2000iA 100B
- 川口鉄工 KX-100
- 川口鉄工 KX-220B
- 川口鉄工 KX-220B
- 川口鉄工 KX-360B
- 川口鉄工 KX-360B
基盤研究関係（学内共用）
基盤研究関係（学内共用）
- X線光電子分光装置 （日本電子，JPS-9200）
- イオンマイクロアナライザ （ATOMIKA社，SIMS4000）
- 熱電子放出型走査電子顕微鏡 （日立（株），S-3500H）
- 結晶方位分散分析走査電子顕微鏡 （日立（株），S-4300/EBSD）
- 温度可変超高真空原子間力顕微鏡 （Omicron，VT・AFM）
- 200ｋV熱電子放出型透過型電子顕微鏡 （日本電子（株），JEM-2010）
- 200ｋV電界放出型透過型電子顕微鏡 （日本電子（株），JEM-2100F）
- 電子線元素状態分析装置 （日本電子（株），JXA-8900)
- 化学構造解析室（基盤研究設備部門）
- 超伝導フーリエ変換ＮＭＲ（500MHz） （日本電子(株)，ECA-500）
- LCQイオントラップ型質量分析計 （Thermo Scientific社、LCQ Fleet）
- 超伝導フーリエ変換ＮＭＲ（300MHz） （Varian社，Unity 300）
- 円二色性分散計 （日本分光（株），J-720W）
- 二重収束質量分析計(EI,FAB,GC/MS) （日本電子（株），JMS-600）
- 熱分析装置 （（株)リガク，DSC8230・TG8120）
- CCD型単結晶X線回折装置 （（株）リガク，Saturn70 CCD）
- DSC粉末X線同時測定装置 （（株）リガク，Ultima III）
- ESI - TOF型質量分析装置 （日本電子（株），JMS-T100 AccuTOF)
- 有機元素分析装置 （PerkinElmer、Series II CHNS/O 2400）
- 共焦点レーザー走査型蛍光顕微鏡 （Carl Zweiss, LSM710）
- 分析・計測機器室（基盤研究設備部門）
- 三次元形状測定・評価システム （ZWEISS, PRISMO Navigator 5 S-ACC mass）
- 超伝導量子干渉型磁束計 （Quantum Design社，MPMS-XL7）
- 電子スピン共鳴装置 （Brucker 社， ELEXSYS）
- 高磁場多目的物性測定システム （Quantum Design社，PPMS）
- 低温粉末X線回折装置 （マックサイエンス(現BrukerAXS)，M18XHF22）
- 高速応答FT-IR （Thermo Scientific社， Nicolet 6700）
- 顕微レーザーラマン分光計 （日本分光（株），NRS-3100）
- 温度可変ホール測定装置 （ケースレー）
- マクロフォトルミネッセンス測定装置 （堀場製作所、PHOTOLUMINATOR）
- フラッシュ法熱物性測定装置 （Bruker AXS、NETZSCH LFA447 NanoFlash）
- 絶対PL量子収率測定装置 （浜松フォトニクス、Quantaurus-QY）
- 電波暗室 （TDK-EPC(株)，(株)デバイス，Agilent Tech.(株)）
材料・デバイス・ロボット関係（学内共用）
材料・デバイス・ロボット関係（学内共用）
- クリーンルーム（クラス100および10000）
- 半導体プロセス装置
- 電子ビーム蒸着装置
- 酸化・拡散炉（最高温度1000度）
- スパッタ装置
- イオン注入装置
- 反応性イオンエッチング
- ワイヤーボンダー
- ウエットステーション
- リソグラフィー
- 電子線リソグラフィー
- 電気測定評価
- 有機金属気相成長(MOCVD)GaN系
- FE-SEM
- X線回折装置
- 走査型プローブ顕微鏡
- 微弱発光スペクトロメーター（光・バイオ室）
- ルミノメーター（光・バイオ室）
- 発光プレートリーダー（光・バイオ室）
- 蛍光位相差顕微鏡（機械・ロボット室）
- 機械・ロボット関連
- 超微細放電加工器 MG-ED72W 松下電器産業(株)
- 超深度レーザー顕微鏡：VK-8510(キーエンス)
- 高速度マイクロスコープ： VW-5000 キーエンス
- 超微小硬さ試験機： MVK-1 株式会社明石製作所
- 三次元レーザ干渉計測システム（（株）ライカジオシステム社製）
バイオ・フォトニクス関係（学内共用）
バイオ・フォトニクス関係（学内共用）
- プレハブ低温室（サンヨー ３坪）
- 無菌ベンチ（サンヨー ＭＣＶ－１３ＢＳＳ）
- 振盪培養器（東京理化 ＯＳＩ－５０２Ｌ）
- 高圧蒸気滅菌機（サンヨーＭＬＳ２４２０）
- 製氷機
- 超純水製造器（ミリポア）
- 冷却遠心機（トミー ＳＲＸ－２０１）
- 恒温恒湿培養器（サンヨーＭＬＲ３５０Ｈ）
- 実験ドラフト
- 実験台
- 有機元素分析装置：有機化合物を対象とした燃焼法による元素分析装置
- 精密天秤：説明 感度 0.001mg。元素分析試料を秤量するのに用いている
- 広帯域波長可変パラメトリック発振器システム
- 光学台2台
- 高速オシロスコープ
低温室（学内共用）
低温室（学内共用）
- 液体ヘリウム
- 液体窒素
